通过能量色散X射线光谱仪来测定。Ti和O元素来源于TiO2,而F,Si,Mg,Al,K,和Cu则来源于氟金云母。能谱测得的Sn元素的质量百分数是0.88%，能够归因于SnO2。图3.5所示为制备的不同晶型氧化钛薄膜的扫面电镜图片。

　　锐钛矿氧化钛薄膜由直径约为15 nm的颗粒组成，看起来像一个外表光滑的薄板。而金红石型氧化钛薄膜则由一簇簇纳米花组成，纳米花的直径为190～260 nm。每朵纳米花均由数量超越20个的纳米棒组成。

　　为了进一步调查金红石型氧化钛纳米棒的晶体结构，采用透射电镜以及选区电子衍射进行表征。样品的制备方法如下：取若干粉体置于研钵中，研磨10 min。随后将研磨所得粉体置于蒸馏水中，超声分散15 min。接着将所得悬浮液倒入100 mL量筒中，静置1小时。取上层清液滴到铜网上。

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